儀器簡介：

XD鍍層測厚儀是一款專用于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

該系列儀器不但可以應(yīng)對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• *EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量

• 上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量

• 自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦

• 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測

• 小面積測量：最小測量面積0.002mm2

• 可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無人值守自動測量

國產(chǎn)XD-1000鍍層測厚光譜儀性能優(yōu)勢

1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統(tǒng)
3.*圖像識別
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換
6.雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

國產(chǎn)鍍層測厚光譜儀全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動自檢、復(fù)位；
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)；
點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結(jié)果。

國產(chǎn)XD-1000鍍層測厚光譜儀技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：*多24個元素，多達(dá)5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9%
國產(chǎn)鍍層測厚光譜儀鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
*微孔準(zhǔn)直技術(shù)：*小孔徑達(dá)0.02mm,*小光斑達(dá)0.05mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃